C、(tan δ), Q测试,低电阻测量
测试源频率:1kHz,1MHz
测量时间:1.5ms(1MHz)
RS-232C,GP-IB
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 |
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输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件。 ※RS-232C用连接线可以使用支持网络连接的市面上销售的交叉线。RS-232C连接线9637除硬件流控制之外的情况下可以使用。 |
测量参数 | C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ) |
测量范围 | C:0.001fF～15.0000μF |
基本精度 | (代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013 |
测量频率 | 1kHz, 1MHz |
测量信号电平 | 500mV, 1V rms |
输出电阻 | 1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程) |
显示 | LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定) |
测量时间 | 1.5ms:1MHz, 2.0 ms:1kHz |
机能 | BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C拒绝功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口 |
电源 | AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大40VA |
体积及重量 | 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg |
附件 | 电源线× 1, 电源备用保险丝× 1,使用说明书× 1 |
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